1. Materials and Methods

Die genauen chemische Zusammensetzungen (in Masse-%) aus Hastelloy-X Legierungen mit 0 und 0,12 Yttrium HX und HX bezeichnet-a, bzw., und sind in Tabelle 1 gezeigt. Diese beiden Proben wurden in Form eines 45 × 45 × 45-mm-Würfels mit der EOS M290 SLM-Maschine (EOS, ROBERT-Cerling-ring 1, 82152, KRAILLING, BAVARIA, Deutschland) in einem Schutz Ar-Atmosphäre unter Verwendung von pre-alloyed Pulver und die gleichen Verarbeitungsparametern. Wir haben die Standard-Wärmebehandlung sowohl für die Hx- als auch für HX-A-Exemplare durchgeführt. Lösung Wärmebehandlung (ST) wurde bei 1177 ° C für 2 h durchgeführt, gefolgt von der Luftkühlung auf Raumtemperatur

 

-/#+-----F der Kriechprüfung, wir haben das geschnitten Cube in eine Reihe von Platten mit einer Dicke von 3,1 mm; Von diesen Platten wurden die Kriechtestproben mit einer Elektro-Schneidemaschine von Electro

diScharde ausgeschnitten. Die Messabmessungen jeder Probe betrug 19,6 × 2,8 × 3,0 mm. Wir haben den Kriechtest unter 900 ◦C

80 MPA-Bedingungen durchgeführt. Die Proben wurden poliert SiC Schmirgelpapier mit bis zu 1200 Gradvon Diamantpaste, gefolgt von bis zu kolloidaler Kieselsäure (0,5 & mgr; m) unter Verwendung von Maschine A Struers (Ballerup, Dänemark) automatische Polier. Alle Proben wurden dann mit Ethanol in einem Ultraschallbad 10 min gewaschen. Wir geätzt die Proben mit 20% iger Phosphorsäure 80% Wasser-Lösung Schmelzbad Grenzen zu beachten. Die mikrostrukturelle Beobachtung wurde unter Verwendung eines optischen Mikroskops (Olympus Corp. tokyo, japan) durchgeführt, einem Rasterelektronenmikroskop (SEM; Hitachi, Ltd, Tokio, Japan), Energiedispersive Spektroskopie (EDS) (s

3700n Typ EDS Hergestellt von Horiba Seisakusho Co., Ltd, Kyoto, Japan) und Feldemissionselektronenmikroskopie (Fe

SEM) (JSM7100, JEOL, Tokio, Japan), der an einem EDS (EDAXAMETEX 9424) befestigt ist. Image J-Software (64 BIT Java 1.8.0_172) wurde verwendet, um Rissfraktion und Porositätsmessungen zu analysieren.

 

 -

Results---1.1.--microstruktur Beobachtung

 3.1.1.

B

built Proben-buility 1 zeigt den HX und HX \\ Optische Mikrostrukturen der NA-Exemplare in der als-Built-Bedingung. Alle wurden mit den gleichen Verarbeitungsparametern hergestellt. Die HXa mehr Risse als HX (Abbildung 1a) zeigte Probe, weil die HX

a zusätzliche Yttrium (Y) Legierungselemente enthalten sind, dass die Probe HX Probe fehlte. Der bemerkenswerte Punkt ist, dass alle Risse parallel zur Baurichtung (BD) waren (Abbildung 1b).na der Riss Fraktionen für die HX und HX \\ Proben sind 1% bzw. 5% betrugen.

 

--Figure 2 zeigt SEM-Aufnahmen der alsbuilt Probe. Beiniedrigerer Vergrßerung zeigten alle Proben Schmelzbad Grenzen und Erstarrungsstrukturen, wie Korngrenzen und Dendriten (Figur 2a, b für HX und 2c, d für HX

a). Fig. 2B zeigt Risse bei höherer Vergrößerung in der Hx-Probe. In beiden Proben wurden die Risse entlang der Korngrenze und erschien in interdendritischen Bereichen ausgebildet.

 

--Wir ausgeführt EDS-Mapping-Scans an den Rissen der HX und HX-a Proben. EDS-Analyse zeigte, SiC Carbiden und W6C Bildung in der HX Probe (Abbildung 3a). Im HX-a Probe an dem Risse EDS-Mapping die Bildung von YC (Abbildung 3b) zeigte.

 

figure 4 zeigt EDS-Mapping der HXa als

built Probe, die die Existenz von kleinen Y-Oxid (Yttriumoxid) und Si-Oxid (Siliciumdioxid) Teilchen im Innern des Korns anzeigt. Die Rückstreuelektronenbeugung (EBSD) kristallographische Orientierung abbildet beiden Proben im als

built Zustand (Figur 5) ergab säulenförmige Körnernahezu parallel ausgerichtet zu der Gebäude-Richtung. In der Hx-Exemplare sind einige Körner in Richtung ausgerichtet und einige sind in Richtung (Abbildung 5a). Andererseits sind die Körner in der HXA-Probe etwas feiner und meist in der Richtung (Fig. 5b)

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