3.1.2. ST Specimens
figure 6 zeigt SEM-Mikroaufnahmennach ST Wärmebehandlung. Die Grenzen von geschmolzenen Pools und dendritischen Strukturen verschwanden. Die Hx-St-Probe präsentierte eine gleichartige Kornmorphologie beiniedrigerer Vergrößerung (Abbildung 6a). Diese Exemplare zeigte auch viele Zwillinge bei höheren Vergrößerungen (Abbildung 6b). Für die HX-a Probe Kornmorphologie ist die ST Probe war ähnlich wie die von als-built Probe (Figur 6c). Zwei wesentliche Unterschiede wurden zwischen der HX Probe und dem HX \\ beobachtetnach Behandlung STna Probe: in letzterem die Korngrenze wurde dicker mit Hartmetall, und diese feinen Carbiden im Innern des Korns gebildet wird (Figur 6d). Im ersteren, auf der anderen Seite wurden keine Karbide innerhalb des Korns beobachtet, und die Korngrenze war dünner als die der HX \\ ST Probe (6b)na. Wir haben SEM-Analyse des HX-A als-built-Probe an der Korngrenze durchgeführt; Die Ergebnisse sind in Fig. 7A dargestellt. M6c, SIC und YC wurden an der Korngrenze gebildet. Diese Carbide an der Korngrenze müssen die Grenze während der Lösungshärtungsbehandlung festgenommen haben. Wir haben Fe-SEM-Analyse an der Korngrenze im HX-A ST-Exemplar durchgeführt. Fig. 7b zeigt die Fe-sem-Mikrofotografie des HX-A ST-Probens. MC (Si, Y), (MO, W) 6C und CR23C6-Carbide wurden an der Korngrenze gebildet. Dies in erster Linie verursacht den Korngrenzeneffekt Pinning um schließlich eine kolumnare Kornmorphologie beizubehalten--.
a Proben bei dem ST Zustand. Nach der Lösungswärmebehandlung zeigte das Hx-Probe ein Gleichgewichtskörnern, und die Orientierung war zufällig (Abbildung 8a). Die meisten Körner haben eine Richtung entlang (Abbildung 8a). die HX \\ jedochna alsbuilt Probe (5b)na zum HX erschien Probe \\ ähnlich zu sein; Das heißt, es hatte eine säulenförmige Kornmorphologie und die Hälfte der Körner entlang dem blieb----100<Direction (Figur>8b).
Fig ure 9a zeigt EDS Kartierung des HX
a ST Probe, welches anzeigt, MoRICH Karbide im Inneren des Korns. Es gab auch die Bildung eines Oxids von Y und SIContaining C innerhalb des Korns (siehe Abbildung 9a). Um den Grund für die Ansammlung von M6C Carbiden entlang der interdendritischen Bereichenach der Lösungswärmebehandlung zu finden, führten wir EDS-Mapping in den interdendritischen Bereichen des HXa als-built Probe (9b); Bei den interdendritischen Regionen wurden Mo, SI, C und O getrennt. Materials 2021, 14, x begutachtungs 8 von 16 9a zeigt EDS Kartierung des HX-a ST Probe, die Mo-RICH Karbide innerhalb des Korns anzeigt. Es gab auch die Bildung eines Oxids von Y und SI-Containing C innerhalb des Korns (siehe Abbildung 9a). Um den Grund für die Ansammlung von M6C Carbiden entlang der interdendritischen Bereichenach der Lösungswärmebehandlung zu finden, führten wir EDS-Mapping in den interdendritischen Bereichen des HX-a als-built Probe (9b); an den interdendritischen Bereichen, Mo, Si, C und O wurde getrennt.----
Wir ein Kriechtest entlang der Gebäuderichtung durchgeführt (vertikale Probe) undnormal zum Gebäude Anweisungen (horizontales Exemplar); die Kriecheigenschaften Kurven sind in Figur 10. In der alsbuilt Zustand die vertikalen HX Probe zeigte ein Kriechen Lebensdauer von 13,8 h dargestellt, während die Probe mit einer HXA Kriechlebensdauer 1,46 mal höher zeigten, 20,2 h (Abbildung 10a). Außerdemna die HX \\ ergab eine höhere Kriechen
rupture Dehnung (5,7%) als die HX (2,8%). Das HX alsbuilt horizontale Probe zeigte ein längeres Kriechleben (3,4 h) als die Hx-Horizontale (0,26 h), aber der Bruchstamm war in beiden Proben fast gleich (10b). Fig. 10c zeigt die Kriecheigenschaften von stummen Vertikalen. Das Hx-Exemplar zeigte ein Kriechleben von 3,7 h, während das HXA-Exemplar ein achtmal höheres Kriechleben zeigte, 29,6 h. Der HX-A zeigte eine höhere Kriech---Bruß-Dehnung (15,6%), fast doppelt so hoch der der Hx (7,5%). Die HX ST horizontal Probe zeigte längere Kriechlebensdauer (3,6 h) als die HX-a horizontal Probe (0,26 h), aber das Kriech-rupture Dehnung war fast das gleiche in beiden Proben (Figur 10d). Materialien 2021, 14, X für Peer Review 9 von 16 Wir haben einen Kriechtest entlang der Baurichtung (vertikales Probe) undnormal zu Baurichtung (horizontales Probe) durchgeführt; Die Kriechkurven sind in Abbildung 10 dargestellt. In dem als-Built-Zustand zeigte die vertikale Hx-Probe eine Kriechlebensdauer von 13,8 h, während das HX-A-Exemplar eine Kriechlebensdauer aufweist, 1,46-mal höher, 20,2 h (Abbildung 10a). Darüber hinaus ergab das HX-A eine höhere Kriech---Brudel-Dehnung (5,7%) als der Hx (2,8%). Das HX als-built horizontale Probe zeigte ein längeres Kriechleben (3,4 h) als die Hx-Horizontale (0,26 h), aber der Bruchstamm war in beiden Proben fast gleich (10b). Fig. 10c zeigt die Kriecheigenschaften von stummen Vertikalen. Die Hx-Probe zeigte ein Kriechleben (3,6 h) als das Hx-a-----horizontal-Proben (0,26 h), aber die Kriech---Brusionsdehnung war in beiden Exemplarennahezu gleich (Abbildung 10d).- -
--кchure 11 zeigt die kriechenden-usende Oberflächen. Es ist aus Fig. 11a, B offensichtlich, dass der Hx und Hx-A als-builte vertikale Exemplare längliche Körner aufweist, was schließlich Nacken und Bruch induziert. Im Gegensatz dazu kann auf den AS-Built-Hx- und Hx-A-horizontalen Proben (Fig. 11C, d jeweils) eine ziemlich spaltende-tige Oberfläche beobachtet werden. Offensichtlich resultierten die senkrecht zur Spannungsachse senkrechten Risse in der spaltenden-like Oberfläche entlang der dendritischen Struktur, was auf das spröde Verhalten und das untere Duktilität
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